ультрамикроскопия

УЛЬТРАМИКРОСКОПИЯ (от лат. ultra, греч. mikros — маленький и skopeo — смотрю)

оптич. метод наблюдения и анализа коллоидных частиц в жидкой или газовой фазе с помощью ультрамикроскопов (УМ). Разработан и реализован P. Зигмонди и Г. Зидентопфом (1903), создавшими первый щелевой УМ (рис. 1). В нем исследуемая система неподвижна. Содержащая изучаемое вещество кювета освещается (с помощью системы источник света — конденсор или линза — осветит. объектив) через прямоугольную щель, изображение которой проецируется в зону наблюдения. В окуляр наблюдат. микроскопа видны светящиеся точки, находящиеся в плоскости изображения щели. Выше и ниже освещенной зоны присутствие частиц не обнаруживается.

ультрамикроскопия

Рис. 1. Схема щелевого ультрамикроскопа: 1 — источник света; 2 — конденсор; 3 — оптич. щель; 4 — осветит, объектив; 5 — кювета; 6 — наблюдат. микроскоп.

В основе У. лежит дифракция света на коллоидных частицах, размер которых меньше половины длины световой волны, в результате чего система начинает светиться. Частицы можно наблюдать в УМ как яркие дифракц. пятна, изучать их природу, оценивать концентрацию, однако изображений частиц микроскоп не создает. Яркость свечения, а следовательно, и видимость частиц зависят от разности показателей преломления частицы и дисперсионной среды. Если она велика (напр., взвесь металлич. частиц в воде), то отчетливо фиксируются частицы размерами 2–4 нм (т. е. значительно меньше предела разрешения обычных микроскопов). Если эта разность мала (взвесь орг. частиц в воде), то обнаруживаются только частицы размерами не менее 20–40 нм. В лиофильных коллоидах (напр., гелях желатины, декстрина) поверхность частиц вследствие сольватации не обладает заметной разницей в показателях преломления относительно дисперсионной среды (воды), поэтому свечение в них значительно слабее.

Миним. размер обнаруживаемых частиц зависит также от интенсивности освещения, поэтому в УМ применяют сильные источники света (ртутные лампы высокого давления). Средний линейный размер коллоидных частиц можно определить методом У. по формуле: ультрамикроскопия. Рис. 2 , где с — массовая концентрация частиц; V — наблюдаемый объем взвеси; η — среднее число подсчитанных в этом объеме частиц; ультрамикроскопия. Рис. 3 — плотность частиц.

В 1950-х гг. Б. В. Дерягин и Г. Я. Власенко разработали поточный УМ, в котором поток жидкого золя или аэрозоля движется по стеклянной трубке навстречу наблюдателю. Пересекая зону освещения, формируемую сильным источником света со щелевой диафрагмой, частицы дают яркие вспышки, регистрируемые визуально или с помощью фотометрич. аппаратуры. Расположенный на пути светового луча фотометрич. клин позволяет устанавливать ниж. предел размеров регистрируемых частиц. Определяемые концентрации частиц в коллоидной системе достигают 1010 частиц в 1 см.

В совр. поточных УМ (рис. 2) источниками света служат лазеры, а счет частиц производится фотоэлектронными умножителями, соединенными с мини-ЭВМ. Такие приборы позволяют исследовать коллоидные системы количественно с большой точностью, напр. строить диаграммы распределения микрочастиц по размерам, а также используются в гидродинамич. исследованиях (для наблюдения характера движения жидкости или газа в сложных трубопроводных системах). В этих случаях микрочастицы стандартного размера (иногда флуоресцирующие) специально вносят в струю жидкости либо газа, отслеживают их траектории, измеряют скорости движения на разл. участках, после чего компьютеры обрабатывают результаты и строят мат. модель гидродинамич. системы.

ультрамикроскопия. Рис. 4

Рис. 2. Схема поточного ультрамикроскопа-анализатора: 1 — лазерный осветитель; 2 — конденсор; 3 — коллиматор; 4 — объектив; 5 — проточная кювета; 6 — наблюдат. микроскоп; 7 — световод; 8 — фотоэлектронный умножитель; 9 — усилитель-формирователь импульсов; 10 — компьютерный анализатор; 11 — графич. дисплей; 12 — печатающее устройство; 13 — графопостроитель.

У. применяют также для определения коэф. диффузии дисперсных частиц в разл. средах путем наблюдения их броуновского движения, для контроля чистоты атм. воздуха, воды, степени загрязнения оптически прозрачных сред посторонними включениями.

Лит.: Коузов П. А., Основы анализа дисперсного состава промышленных пылен и измельченных материалов, 3 изд., Л., 1987. См. также лит. при ст. коллоидная химия.

А. Г. Богданов

Источник: Химическая энциклопедия на Gufo.me


Значения в других словарях

  1. ультрамикроскопия — орф. ультрамикроскопия, -и Орфографический словарь Лопатина
  2. ультрамикроскопия — Ультра/микро/скоп/и́/я [й/а]. Морфемно-орфографический словарь